Skip to main content

Welkom bij Erasmus MC & Bohn Stafleu van Loghum

Erasmus MC heeft ervoor gezorgd dat je Mijn BSL eenvoudig en snel kunt raadplegen. Je kunt je links eenvoudig registreren. Met deze gegevens kun je thuis, of waar ook ter wereld toegang krijgen tot Mijn BSL.

Registreer

Om ook buiten de locaties van Erasmus MC, thuis bijvoorbeeld, van Mijn BSL gebruik te kunnen maken, moet je jezelf eenmalig registreren. Dit kan alleen vanaf een computer op een van de locaties van Erasmus MC.

Eenmaal geregistreerd kun je thuis of waar ook ter wereld onbeperkt toegang krijgen tot Mijn BSL.

Login

Als u al geregistreerd bent, hoeft u alleen maar in te loggen om onbeperkt toegang te krijgen tot Mijn BSL.

Top
Gepubliceerd in:

01-05-2021 | Casus Prothetische tandheelkunde

Kokhalsproblematiek? Scannen!

Auteurs: Dik van Meegen, Phillip van Rijn

Gepubliceerd in: Tandartspraktijk | Uitgave 3/2021

Log in om toegang te krijgen
share
DELEN

Deel dit onderdeel of sectie (kopieer de link)

  • Optie A:
    Klik op de rechtermuisknop op de link en selecteer de optie “linkadres kopiëren”
  • Optie B:
    Deel de link per e-mail

Samenvatting

Het vervaardigen van een prothese is buitengewoon lastig als er bij de patiënt sprake is van kokhalsproblematiek. Afdrukken kan soms zelfs onmogelijk zijn. Scannen van de edentate kaken en printen van een prothese zou een oplossing kunnen zijn. We hebben dit geprobeerd en doen hierbij verslag van onze bevindingen.
Metagegevens
Titel
Kokhalsproblematiek? Scannen!
Auteurs
Dik van Meegen
Phillip van Rijn
Publicatiedatum
01-05-2021
Uitgeverij
Bohn Stafleu van Loghum
Gepubliceerd in
Tandartspraktijk / Uitgave 3/2021
Print ISSN: 0167-1685
Elektronisch ISSN: 1875-6808
DOI
https://doi.org/10.1007/s12496-021-0039-z

Andere artikelen Uitgave 3/2021

Als kauwen en lachen weer mogelijk is

  • Casus Gnathologie/restauratieve tandheelkunde (deel 2)

Het autismepaspoort

  • Inzicht in ondersteuningsbehoefte voor zorgverleners

Bore-out

  • Column

Doe méér met POM

  • Kennistoets Tandtechniek