Skip to main content

Welkom bij Erasmus MC & Bohn Stafleu van Loghum

Erasmus MC heeft ervoor gezorgd dat je Mijn BSL eenvoudig en snel kunt raadplegen. Je kunt je links eenvoudig registreren. Met deze gegevens kun je thuis, of waar ook ter wereld toegang krijgen tot Mijn BSL.

Registreer

Om ook buiten de locaties van Erasmus MC, thuis bijvoorbeeld, van Mijn BSL gebruik te kunnen maken, moet je jezelf eenmalig registreren. Dit kan alleen vanaf een computer op een van de locaties van Erasmus MC.

Eenmaal geregistreerd kun je thuis of waar ook ter wereld onbeperkt toegang krijgen tot Mijn BSL.

Login

Als u al geregistreerd bent, hoeft u alleen maar in te loggen om onbeperkt toegang te krijgen tot Mijn BSL.

Top
Gepubliceerd in:

01-10-2011 | Gesignaleerd

Hulp voor perfectionisten

Auteur: Bohn Stafleu van Loghum

Gepubliceerd in: Psychopraktijk | Uitgave 5/2011

Log in om toegang te krijgen
share
DELEN

Deel dit onderdeel of sectie (kopieer de link)

  • Optie A:
    Klik op de rechtermuisknop op de link en selecteer de optie “linkadres kopiëren”
  • Optie B:
    Deel de link per e-mail

Extract

Perfectionisme wordt vaak gezien als een positieve eigenschap. Echter, wanneer dit persoonlijkheidskenmerk escaleert en allesoverheersend wordt, blijkt ze veel minder positief voor het psychologisch en fysiek welbevinden van mensen1. Klinisch perfectionisme wordt gedefinieerd als: het stellen vanextreem hoge standaarden voor zichzelf, waarbij deze standaarden op een aanhoudende enrigide manier worden nagestreefd, ongeacht negatieve gevolgen. Hetzelfwaarde gevoel van perfectionisten is hierbij sterk afhankelijk van het al dan niet bereiken van deze hoge standaarden. Onderzoek wijst uit dat dit extreem-perfectionistische streven een risico en onderhoudende factor is voor eetstoornissen, angst- en stemmingsstoornissen. …
Metagegevens
Titel
Hulp voor perfectionisten
Auteur
Bohn Stafleu van Loghum
Publicatiedatum
01-10-2011
Uitgeverij
Bohn Stafleu van Loghum
Gepubliceerd in
Psychopraktijk / Uitgave 5/2011
Print ISSN: 1878-4844
Elektronisch ISSN: 2210-7754
DOI
https://doi.org/10.1007/s13170-011-0077-6